面對(duì)氫氣中ppb（十億分之一）級(jí)別的痕量雜質(zhì)，傳統(tǒng)的檢測(cè)手段已力不從心。現(xiàn)代氫氣純度分析的戰(zhàn)場，早已成為光譜學(xué)與色譜學(xué)兩大技術(shù)流派的“對(duì)決”。它們各施絕技，“捕獲”那些肉眼不可見卻足以致命的雜質(zhì)分子。

在GB/T 16942-2009中，光腔衰蕩光譜法（CRDS） 被明確推薦用于水分（H?O）的測(cè)定。這項(xiàng)技術(shù)的原理堪稱精妙：一束脈沖激光被射入由一對(duì)超高反射率鏡面構(gòu)成的光學(xué)諧振腔內(nèi)。在純凈的氫氣中，光在腔內(nèi)來回反射，其強(qiáng)度衰減的時(shí)間（即“衰蕩時(shí)間”）是恒定的。當(dāng)腔內(nèi)存在水分子時(shí)，激光在特定波長被水分子吸收，導(dǎo)致光能損失加劇，衰蕩時(shí)間顯著縮短。通過精確測(cè)量這一時(shí)間差，即可反演出水分子的濃度。

其優(yōu)勢(shì)在于靈敏度極高（檢測(cè)限可達(dá)0.05 ppm），響應(yīng)速度快，且實(shí)現(xiàn)了非接觸式測(cè)量，避免了采樣污染，完美契合了電子工業(yè)對(duì)超高純度和在線監(jiān)控的需求。

而色譜技術(shù)，尤其是氣相色譜法（GC），則在多組分分析中占據(jù)統(tǒng)治地位。GB/T 37244-2018和GB/T 16942-2009均將GC作為一氧化碳、二氧化碳、總烴等雜質(zhì)的仲裁方法。其核心在于“分離”與“檢測(cè)”。樣品氣在載氣推動(dòng)下通過色譜柱，不同組分因在固定相中溶解度的差異而實(shí)現(xiàn)分離，先后到達(dá)檢測(cè)器。對(duì)于氫氣這種背景氣，氦離子化檢測(cè)器（PDHID） 是理想選擇，它對(duì)幾乎所有雜質(zhì)都有高響應(yīng)，且不受氫氣背景的干擾。

更前沿的 硫化學(xué)發(fā)光檢測(cè)器（SCD），被ASTM D7652（GB/T 37244引用）用于總硫檢測(cè)，它對(duì)硫化物具有極高的選擇性和靈敏度，能將硫元素轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)的SO?，通過測(cè)量其發(fā)光強(qiáng)度來定量，有效避免了其他組分的干擾。

這場“對(duì)決”并非零和博弈。在實(shí)際應(yīng)用中，往往是多種技術(shù)的聯(lián)用。例如，先用GC分離復(fù)雜組分，再用CRDS或SCD等高選擇性檢測(cè)器進(jìn)行精確定量。正是這些技術(shù)的協(xié)同作戰(zhàn)，才使得我們有能力對(duì)氫氣進(jìn)行全方位的“體檢”，為高純度氫氣的應(yīng)用保駕護(hù)航。